Encabezado Facultad de Ciencias
Presentación

Física (plan 2002) 2023-2

Optativas, Temas Selectos de Física de Radiacciones I

Grupo 8376, 20 lugares. 11 alumnos.
Técnicas nucleares para el análisis y modificación de materiales usando aceleradores de partículas
Profesor Alejandra López Suárez
Ayudante Yaser David Cruz Delgado
 

Hola chicos!!!!!

Para aquéllos que se inscribieron a la clase, pero que no encontraron el salón donde se dará el curso, les anexo las instrucciones para llegar al salón. El próximo miércoles 8 de febrero a las 10:00 estaré en el Sala de Juntas del Acelerador de 5.5 MV para vernos y explicar la dinámica del curso. Ahí es donde se dará la clase.

1. Entrar al Instituto de Física.

2. Al topar con la fuente, girar a la izquierda hasta topar con el edificio Colisur (edificio con paredes de vidrio)

3. Girar a la derecha y dirigirse al edificio del Acelerador 5.5 (El edificio está compuesto por una parte horizontal y una vertical muy alta, que dice Instituto de Física)

4. Entrar al edificio, subir las escaleras. Al llegar la primer nivel, del lado derecho encontrarán el salón de Juntas del Acelerador 5.5.

Saludos

Alejandra

¡¡¡¡Bienvenidos!!!!

Temas Selectos de Física de Radiaciones I

Técnicas nucleares para el análisis y modificación de materiales

Dra. Alejandra López Suárez

e-mail: chipi@fisica.unam.mx

Dinámica del curso: La clase será presencial y se llevará a cabo los días miércoles de 10:00 a 12:00 hrs en la sala de Seminarios del Acelerador 5.5 del Instituto de Física de la UNAM. Una vez finalizada la clase se subirá a la plataforma de classroom la presentación y el video de la misma.

La primera clase será el día 1 de febrero a las 10:00 en el lugar citado anteriormente.

Recursos didácticos: Se utilizarán diversos libros y artículos como base del curso. Éstos se pueden encontrar en la sección de bibliografía. En clase, la profesora usará los programas de simulación SRIM y SIMNRA para obtener los poderes de frenado y las trayectorias de los iones al interactuar con diferentes materiales y para el análisis de espectros RBS y ERDA, respectivamente.

Contacto: Para mayor información comunicarse con la Dra. Alejandra López Suárez.

E-mail: chipi@fisica.unam.mx

Criterios de evaluación:

Los exámenes son conceptuales. Se mandarán a casa y el estudiante lo regresa contestado tres días después. No hay exámenes de reposición, ni examen final.

2 Exámenes 67%

1 Trabajo de investigación 33%

Temario del curso:

1. Resumen

1.1. Ionización

1.2 Energía de ionización

1.3 Modelo Atómico

1.4 Átomos e isótopos

1.5 Choques entre partículas

1.6 Mecánica cuántica

1.7. Números cuánticos

2. Aceleradores de partículas

2.1 Acelerador lineal

2.2 Acelerador circular

2.3 Ciclotrón

2.4 Acelerador Van de Graaff

2.5 Acelerador Pelletron

3. Interacción de radiación con materia

3.1 Radiación ionizante

3.2 Frenado electrónico

3.3. Frenado nuclear

4. Retrodispersión de Rutherford (RBS)

4.1 Conceptos físicos de RBS

4.2. Resonancias y secciones No-Rutherford

4.3 Análisis cuantitativo de materiales usando RBS

4.4 Análisis de un espectro RBS

Examen 1

5. Análisis de Iones de Retroceso (ERDA)

5.1. Conceptos físicos de ERDA

5.2 Absorbedor

5.3 Análisis cuantitativo de materiales usando ERDA

5.4 Análisis de un espectro ERDA

6. Emisión de rayos X inducida por partículas (PIXE)

6.1. Conceptos físicos de PIXE

6.2 Análisis cuantitativo de materiales usando PIXE

6.3. Análisis de un espectro PIXE

7.1 Aplicaciones de las técnicas de origen nuclear en ciencia de materiales

7.2 Aplicaciones de las técnicas de origen nuclear en ciencias ambientales

7.3 Aplicaciones en alimentos

7.4. Aplicaciones en arte y cultura

Examen 2

Bibliografía:

1. J. Rickards, “La física de las radiaciones en materia”, UNAM (2001).

2. A. Oliver, Application of Accelerators in Research and Industry (1997), 1105-1107.

3. C. Kittel, Introducción a la Física del Estado Sólido, Ed. Reverté, 3ª. Ed. (1991).

  1. G.F. Knoll, Radiation Detection and Measurement, Ed. John Wiley &Sons, 2ª. Ed., EUA (1989).

5. L.C. Feldman and J.W. Mayer, Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, Ed. North Holland, Nueva York (1986).

  1. W.-K. Chu, J.W. Mayer and M.-A. Nicolet, Backscattering Spectrometry, Ed. Academic Press, Nueva York (1978).

7. J.R. Tesmer and M. Nastasi, Ed., Handbook of Modern Ion Beam Materials Analysis, Ed. MRS, Pensylvania, EUA (1995).

8. S. Johansson, J Campbell, PIXE: A novel technique for elemental analysis. Ed. John Wiley And Sons, Inglaterra (1988).

9. M. Mayer, SIMNRA User’s Guide, Version 6.02, Max Planck-Institute für Plasmaphysik, Garching (2010).

 


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