Física (plan 2002) 2023-1

Optativas, Temas Selectos de Física de Radiacciones I

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Temas Selectos de Física de Radiaciones I

Técnicas nucleares para el análisis y modificación de materiales

Dra. Alejandra López Suárez

e-mail: chipi@fisica.unam.mx

FAVOR DE VER EL VIDEO DE LA PRESENTACIÓN DEL CURSO: https://youtu.be/mUHUdise8O0

NOTAS IMPORTANTES:

Contacto: Para mayor información comunicarse con la Dra. Alejandra López Suárez

E-mail: chipi@fisica.unam.mx

Criterios de evaluación:

Los exámenes son conceptuales. Se mandarán a casa y el estudiante lo regresa contestado tres días después. No hay exámenes de reposición, ni examen final.

2 Exámenes 67%

1 Trabajo de investigación 33%

Temario del curso:

1. Resumen

1.1. Ionización

1.2 Energía de ionización

1.3 Modelo Atómico

1.4 Átomos e isótopos

1.5 Choques entre partículas

1.6 Mecánica cuántica

1.7. Números cuánticos

2. Aceleradores de partículas

2.1 Acelerador lineal

2.2 Acelerador circular

2.3 Ciclotrón

2.4 Acelerador Van de Graaff

2.5 Acelerador Pelletron

3. Interacción de radiación con materia

3.1 Radiación ionizante

3.2 Frenado electrónico

3.3. Frenado nuclear

4. Retrodispersión de Rutherford (RBS)

4.1 Conceptos físicos de RBS

4.2. Resonancias y secciones No-Rutherford

4.3 Análisis cuantitativo de materiales usando RBS

4.4 Análisis de un espectro RBS

Examen 1

5. Análisis de Iones de Retroceso (ERDA)

5.1. Conceptos físicos de ERDA

5.2 Absorbedor

5.3 Análisis cuantitativo de materiales usando ERDA

5.4 Análisis de un espectro ERDA

6. Emisión de rayos X inducida por partículas (PIXE)

6.1. Conceptos físicos de PIXE

6.2 Análisis cuantitativo de materiales usando PIXE

6.3. Análisis de un espectro PIXE

7.1 Aplicaciones de las técnicas de origen nuclear en ciencia de materiales

7.2 Aplicaciones de las técnicas de origen nuclear en ciencias ambientales

7.3 Aplicaciones en alimentos

7.4. Aplicaciones en arte y cultura

Examen 2

Bibliografía:

1. J. Rickards, “La física de las radiaciones en materia”, UNAM (2001).
2. A. Oliver, Application of Accelerators in Research and Industry (1997), 1105-1107.
3. C. Kittel, Introducción a la Física del Estado Sólido, Ed. Reverté, 3ª. Ed. (1991).
4. G.F. Knoll, Radiation Detection and Measurement, Ed. John Wiley &Sons, 2ª. Ed., EUA (1989).
5. L.C. Feldman and J.W. Mayer, Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, Ed. North Holland, Nueva York (1986).
6. W.-K. Chu, J.W. Mayer and M.-A. Nicolet, Backscattering Spectrometry, Ed. Academic Press, Nueva York (1978).
7. J.R. Tesmer and M. Nastasi, Ed., Handbook of Modern Ion Beam Materials Analysis, Ed. MRS, Pensylvania, EUA (1995).
8. S. Johansson, J Campbell, PIXE: A novel technique for elemental analysis. Ed. John Wiley And Sons, Inglaterra (1988).
9. M. Mayer, SIMNRA User’s Guide, Version 6.02, Max Planck-Institute für Plasmaphysik, Garching (2010).