Encabezado Facultad de Ciencias
Presentación

Física (plan 2002) 2022-1

Optativas, Temas Selectos de Óptica I

Grupo 8412, 40 lugares. 4 alumnos.
Profesor Jesús Angel Arenas Alatorre
Ayudante Ileana Ixtlixochitl López Jiménez
 

Principios Básicos de Microscopía Electrónica

Óptativa: 3 horas a la semana.

Dos clases a la semana de 1h 30 min: lunes y viernes de 15:00 a 16:30 hrs.
Plataforma: Zoom

Para mayores informes y acordar horario contactarse al correo: jarenas@fisica.unam.mx

Objetivo:

Difundir los conocimientos básicos para trabajar en el campo de la Microscopía Electrónica Analítica en Ciencia de Materiales.

Temario:

I.- GENERALIDADES

  1. Microscopía Óptica (MO) vs Microscopía Electrónica (ME)
  2. Concepto de resolución
  3. Interacción haz electrónico-muestra
  4. Movimiento ondulatorio
  5. Bases físicas del funcionamiento de un microscopio electrónico
  6. Dispersión elástica e inelástica
  7. Funcionamiento de las lentes electromagnéticas
  8. El sistema de iluminación (emisión termoiónica y de campo)
  9. Cañón de electrones
  10. Coherencia
  11. Formación de imágenes
  12. Aberraciones (Coma, aberración esférica, astigmatismo, curvatura de campo)

II.- MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO

  1. Diseño de un SEM
  2. Interacción de muestra-haz electrónico
  3. Formación de imágenes en el SEM
  4. Procedimientos de imágenes en el SEM
  5. Microanálisis

III.- MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN CONVENCIONAL (CTEM)

1. Diseño de un TEM

2. Difracción electrónica

3. Interpretación de las imágenes de TEM

4. Microanálisis por EDS

5. Microanálisis por Espectroscopia por Pérdida de Energía de Electrones (EELS).

IV.- MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE ALTA RESOLUCIÓN (HRTEM)

1. Requerimientos instrumentos para HRTEM.

2. Imágenes de muestras periódicas

3. Imágenes de muestras no periódicas

4. Simulación de Imágenes

5. Preparación de muestras para el TEM

V.- TÉCNICAS DE TEM DE RELEVANCIA ACTUAL

 


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