Física (plan 2002) 2020-1
Optativas, Temas Selectos de Física de Radiacciones I
Grupo 8395 12 alumnos.
Técnicas nucleares para el análisis de materiales
Fecha y lugar de primera reunión para fijar horario: Lunes 5 de agosto de 2019, 10:00 hrs. Instituto de Física, Edificio Colisur, 1er. piso, Cub. 127.
Temas selectos de física de radiaciones I
Técnicas nucleares para el análisis y modificación de materiales
Dra. Alejandra López Suárez
Temario
1. Aceleradores de partículas
1.1 Acelerador lineal
1.2 Ciclotrón
1.3 Acelerador Van de Graaff
1.4 Acelerador Pelletron
2. Interacción de radiación con materia
2.1 Radiación ionizante
2.2 Frenado electrónico
2.3. Frenado nuclear
3. Retrodispersión de Rutherford (RBS)
3.1 Conceptos físicos de RBS
3.2. Resonancias y secciones No-Rutherford
3.3 Análisis cuantitativo de materiales usando RBS
3.4 Análisis de un espectro RBS
4. Análisis de Iones de Retroceso (ERDA)
4.1. Conceptos físicos de ERDA
4.2 Absorbedor
4.3 Análisis cuantitativo de materiales usando ERDA
4.4 Análisis de un espectro ERDA
5. Emisión de rayos X inducida por partículas (PIXE)
5.1. Conceptos físicos de PIXE
5.2 Análisis cuantitativo de materiales usando PIXE
5.3. Análisis de un espectro PIXE
6.1 Aplicaciones de las técnicas de origen nuclear en ciencia de materiales
6.2 Aplicaciones de las técnicas de origen nuclear en ciencias ambientales
BIBLIOGRAFIA
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J. Rickards, “La física de las radiaciones en materia”, UNAM (2001).
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A. Oliver, Application of Accelerators in Research and Industry (1997), 1105-1107.
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C. Kittel, Introducción a la Física del Estado Sólido, Ed. Reverté, 3ª. Ed. (1991).
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G.F. Knoll, Radiation Detection and Measurement, Ed. John Wiley &Sons, 2ª. Ed., EUA (1989).
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L.C. Feldman and J.W. Mayer, Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, Ed. North Holland, Nueva York (1986).
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W.-K. Chu, J.W. Mayer and M.-A. Nicolet, Backscattering Spectrometry, Ed. Academic Press, Nueva York (1978).
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J.R. Tesmer and M. Nastasi, Ed., Handbook of Modern Ion Beam Materials Analysis, Ed. MRS, Pensylvania, EUA (1995).
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S. Johansson, J Campbell, PIXE: A novel technique for elemental analysis. Ed. John Wiley And Sons, Inglaterra (1988).
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M. Mayer, SIMNRA User’s Guide, Version 6.02, Max Planck-Institute für Plasmaphysik, Garching (2010).